TY  - RPRT
TI  - High-quality, deep formation and identification of oxygen-vacancy defects in silicon carbide
AU  - Ryo Shiotani
AU  - Fu-Chieh Chuang
AU  - Mitsuaki Kaneko
AU  - Tetsuri Nishikawa
AU  - Hiroshi Abe
AU  - Taiga Matsuoka
AU  - Shigehito Miki
AU  - Kazuki Okajima
AU  - Takeshi Ohshima
AU  - Yoshihiko Kanemitsu
AU  - Tsunenobu Kimoto
AU  - Naoya Morioka
AU  - Norikazu Mizuochi
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2610.32642
ID  - 2610.32642
ER  -