TY  - RPRT
TI  - Establishing the role of thickness in LaOBr; an alternative gate dielectric for vdW heterostructures
AU  - Isaac Antoine Lagaud
AU  - Justin Boddison-Chouinard
AU  - Antoine Labbé
AU  - Ayse Melis Aygar
AU  - Alex Bogan
AU  - Li-Lin Tay
AU  - Takashi Taniguchi
AU  - Kenji Watanabe
AU  - Aljoscha Söll
AU  - Zdeněk Sofer
AU  - Adina Luican-Mayer
AU  - Louis Gaudreau
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2610.14272
ID  - 2610.14272
ER  -