TY  - RPRT
TI  - Quickly extracting fidelity decay rates in random circuit benchmarking experiments
AU  - Ake Köhne
AU  - Stavros Efthymiou
AU  - Joanna Majsak
AU  - Jadwiga Wilkens
AU  - Bram Evert
AU  - Andrew D. Patterson
AU  - Jonas Helsen
AU  - Markus Heinrich
AU  - Ingo Roth
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2610.11540
ID  - 2610.11540
ER  -