TY  - RPRT
TI  - Defect-controlled electrical and optical properties of CrN thin films: experiment and first-principles study
AU  - J. Bulíř
AU  - U. D. Wdowik
AU  - J. More-Chevalier
AU  - P. Hubík
AU  - E. de Prado
AU  - M. Vondráček
AU  - L. Fekete
AU  - M. Novotný
AU  - J. Lančok
AU  - D. Legut
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2609.37075
ID  - 2609.37075
ER  -